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X熒光光譜儀 RoHS重金屬鹵素檢測(cè)儀 在工業(yè)環(huán)保合規(guī)、材料成分檢測(cè)、貴金屬質(zhì)檢、電鍍工藝檢測(cè)等領(lǐng)域，能量色散X熒光光譜儀（EDXRF光譜儀）憑借無(wú)損檢測(cè)、高精度、高效率、免復(fù)雜制樣的優(yōu)勢(shì)，成為各大企業(yè)與第三方機(jī)構(gòu)的核心檢測(cè)設(shè)備。本款臺(tái)式EDXRF RoHS重金屬鹵素檢測(cè)儀，可快速完成RoHS指令重金屬、鹵素有害物質(zhì)篩查，同時(shí)支持地礦合金成分分析、電鍍鍍層厚度及含量檢測(cè)、貴金屬純度檢測(cè)，廣泛應(yīng)用于

天創(chuàng)美X 熒光光譜儀檢測(cè)合金材料成分設(shè)備，是行業(yè)主流便攜式合金檢測(cè)設(shè)備。搭載超大型 SDD 硅漂移探測(cè)器與銠靶 X 射線管，輕元素檢測(cè)效果突出，精度、穩(wěn)定性行業(yè)先。無(wú)需制樣，探頭緊貼樣品 2 秒出元素含量與合金牌號(hào)，適配鋼鐵、銅鋁鎂合金全形態(tài)樣品，廣泛用于來(lái)料檢驗(yàn)、廢料回收等工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)無(wú)損檢測(cè)。

天創(chuàng)美EDX1800B XRF能量色散x射線熒光光譜儀 多行業(yè)元素分析 鍍層測(cè)厚貴金屬檢測(cè)設(shè)備 x射線熒光光譜儀元素分析 鍍層檢測(cè)儀，是一款臺(tái)式高精度分析設(shè)備，專(zhuān)為多行業(yè)元素檢測(cè)與質(zhì)量管控研發(fā)。依托*XRF技術(shù)，廣泛應(yīng)用于RoHS檢測(cè)、地礦與合金分析、金屬鍍層測(cè)厚、貴金屬檢測(cè)等場(chǎng)景。儀器元素分析范圍覆蓋硫（S）~鈾（U），可檢測(cè)多種元素，檢出限低至2ppm，重復(fù)性與穩(wěn)

X射線熒光光譜測(cè)厚儀（EDXRF） X射線熒光光譜（XRF）鍍層厚度檢測(cè)儀是針對(duì)電鍍層厚度測(cè)量的專(zhuān)業(yè)設(shè)備，采用X射線激發(fā)樣品中鍍層元素產(chǎn)生特征熒光，通過(guò)探測(cè)器分析熒光強(qiáng)度推算鍍層厚度。儀器具備無(wú)損檢測(cè)、多元素分析、高精度高及快速檢測(cè)的優(yōu)勢(shì)，支持單點(diǎn)/掃描模式，適用于PCB、連接器、汽車(chē)緊固件等鍍層厚度控制，是電鍍行業(yè)質(zhì)量檢測(cè)的核心工具。

能量色散X射線熒光光譜儀原理：基于X射線的能量吸收和發(fā)射過(guò)程。當(dāng)X射線照射到樣品表面時(shí)，被測(cè)試樣品中的原子吸收部分X射線能量并躍遷到一個(gè)激發(fā)態(tài)，然后再釋放出特征X射線（二次X射線）。每個(gè)元素都特 的電子能級(jí)結(jié)構(gòu)，因此不同元素的熒光峰位和峰強(qiáng)度也不同。通過(guò)檢測(cè)熒光的能量變化和強(qiáng)度分布，能夠確定樣品中所含的各種元素及其含量。

能量色散型x熒光分析儀 我公司銷(xiāo)售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長(zhǎng)色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質(zhì)譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質(zhì)譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、等等

xrf熒光光譜分析儀 SDD X射線探測(cè)器具有驚人的計(jì)數(shù)率,高達(dá)200000,比普通的Si-Pin X射線探測(cè)器獲取數(shù)據(jù)的能力高10倍，進(jìn)一步提高了Mg;Al;Si;P;S等輕質(zhì)元素性能。

EDX光譜儀 X射線熒光EDX光譜機(jī)器設(shè)備被檢測(cè)的樣品的對(duì)象可以是液體、固體、粉末、灰漿、過(guò)濾物、實(shí)核體、碎片、微粒、袋裝等。 儀器可自動(dòng)識(shí)別樣品種類(lèi)，也可強(qiáng)制設(shè)定。分為聚合物、混合物、金屬樣品三類(lèi)。